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涂层测厚仪的磁测量原理与涡流测量原理的区别


1.什么是测厚仪


涂层测厚仪是用于无损测量金属基材或非金属基材表面涂层厚度的仪器。通常有用于磁和涡流厚度测量的高精度涂层测厚仪。磁测厚的涂层测厚仪涡流测厚也叫铁铝两用涂层测厚仪


2.涂层厚度测量原理


(1) 磁性厚度测量


磁性金属基材表面涂层的厚度与磁阻和磁通量之间存在一定的关系。该关系可用于计算磁性金属基材表面上的涂层厚度。涂层的厚度是通过测量探头检测到的非磁性涂层流入磁性金属基材的磁通量的大小来测量的。通常,基材表面的涂层越厚,磁阻越大,磁通量越小。


(2) 涡流涂层厚度测量原理


简单地说,高频交流信号用于在探头线圈中产生电磁场,当探头靠近导体 (通常是金属) 时形成涡流。涡流测厚仪的尺寸与探头与导电基板之间的距离有一定的关系。


当涂层测厚仪的探头更靠近导电基板时,涡流计会更大,反射阻抗也会更大。当探头离导电基板较远时,涡流计会更小,反射阻抗也会更小。涂层厚度测量原理直接指示探头和导电基材之间的尺寸,即涂层的涡流测厚仪。


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