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导致涂层测厚仪测量不准确的因素


1.强磁场干扰涂层测厚仪的测量结果


实验证明,当涂层测厚仪在大约10,000V的电磁场附近工作时,测量会受到严重干扰。如果它非常接近电磁场,它可能会崩溃。


2.影响涂层测厚仪的人为因素


这种情况经常发生在新用户身上。的原因涂层测厚仪可以测量到微米级是因为它可以将磁通量的微小变化转换为数字信号。在使用仪器进行测量的过程中,如果用户不熟悉仪器,探头可能会偏离被测基板,导致磁通量发生变化,导致测量错误。


因此,建议在首次使用涂层测厚仪时掌握测量方法。探头的放置对测量有很大影响。在测量过程中,探头应保持垂直于样品表面。并且探头的放置时间不应过长,以免引起基板本身磁场的干扰。


3.涂层测厚仪测量的基材


衬底的最小平面为7毫米,最小厚度为0.2毫米。使用低于此临界条件的涂层测厚仪进行测量是不可靠的。


涂层测厚仪对防止探针与涂层表面密切接触者的粘附物质敏感。因此,必须去除附着的材料,以确保探针与覆盖层表面直接接触,特别是对于磁性涂层测厚仪。进行系统校准时,所选基板的表面也必须裸露且光滑。


4.涂层测厚仪本身失效


此时,您可以与技术人员沟通或返回工厂进行维修。


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